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    • 350/600QM-Hite 三丰高度规
      QM-Hite 三丰高度规
      通过带背光照明的大型液晶显示屏,进行GO/±NG判断。高性能测高仪有一流的精度和垂直度。 新型高精度,高分辨力绝对原点线性编码器进行位置检测,一旦设置好原点,每次启动后,无需再进行原点设置(除非有大的环境温度变化)。 通过设置上、下限公差,进行GO/±NG判断。判断结果超出公差范围时,显示器背光从绿色变为红色,公差判断一目了然。 对于经常要进行的测量,如内径/外径,间距测量

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    • LH-600D三丰二次元高度仪
      LH-600D三丰二次元高度仪
      ◆分辨率/重复精度为0.1/0.5μm时,精度可高达(1.3+0.6L/600)μm。 ◆确保垂直度(前部)达6μm,直线度达4μm。 ◆全/半空气浮动系统可调节气垫。 ◆带有基本统计功能,另外,通过RS-232C数据输出与带有SPC软件的电脑相连,可实现外部测量数据评估。 ◆半自动测量时具有单键操作功能

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    • 400/700TESA Hite Magna测高仪
      TESA Hite Magna测高仪
      ◆TESAHiteMagna400/700测高仪是集TESA25年研发经验推出的极具性价比的一款,它必定成为车间的首选。 ◆TESAHiteMagna400/700适合于如内外长度直径,阶梯尺寸,高度,深度,和距离的测量. ◆TESAHiteMagna400/700和被替代TESAHite350/600相比具有更大的测量范围,更高的精度,电子装置具有IP65的防

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    • 400/700TESA-HITE 测高仪
      TESA-HITE 测高仪
      ◆更大的测量范围 ◆电子装置具有IP65的防护等级以防止液体和灰尘的侵入 ◆内置气浮,已固定安装的面板 ◆采用TESA的专利技术,在测量直径时自动寻找顶点 ◆可进行平行度和垂直度的测量 ◆TESA专利的光电测量系统 ◆与MICRO-HITE兼容的附件,包括测杆及夹持块 ◆每台测高仪带有SCS校准证书

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    • TESA-μHITE测高仪
      TESA-μHITE测高仪
      紧凑的设计,包括测量平台,传感器按Abbe原理同轴安装测量或相对于高度规轴线偏置测头。 平面、平行面或圆柱面的几何体,其内尺寸、外尺寸、高度、深度、台阶及距离尺寸的长度测量。 自动探测孔或轴的顶点。可存储“大”、“小值”以及“大-小值“之间的差值计算。

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    • 350/600/900TESA MICRO-HITE plus M 测高仪
      TESA MICRO-HITE plus M 测高仪
      ◆完全独立式的无绳设计。 ◆气垫设计可以轻松毫不费力的在平台上移动测高仪。 ◆测头以恒定的测力对工件进行快速、可靠的测量。 ◆通过微处理器控制的高可靠性的数据捕捉。

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    • 350/600/900tesa micro hite测高仪
      tesa micro hite测高仪
      可以用来进行平面、平行面和圆柱面几何体的内尺寸、外尺寸、高度、深度或距离尺寸测量。同时可以进行一维或二维的测量。 自动搜索孔或轴的顶点,在动态探测中记录大、小值以及大小值之间的差值计算。TESAIG-13数字式测头可以测量垂直度、直线度、平行度等偏差和跳动误差,并以ISO1101标准输出数据。

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